熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)是針對光伏組件的試驗(yàn)設(shè)備
點(diǎn)擊次數(shù)：2346 更新時間：2019-01-24
熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)是僅對太陽能薄膜光伏組件試驗(yàn)的設(shè)備，用于確定太陽能薄膜光伏組件承受熱斑加熱效應(yīng)的能力，即測得模擬環(huán)境氣候促使太陽能薄膜光伏組件導(dǎo)致焊料融化和封裝退化。模擬一種實(shí)驗(yàn)環(huán)境驗(yàn)證電池局部被遮光或弄臟引起的某種缺陷。
“熱斑效應(yīng)”是指在一定條件下，串聯(lián)支路中被遮蔽的太陽能電池組件將當(dāng)做負(fù)載，消耗其他被光照的太陽能電池組件所產(chǎn)生的能量，被遮擋的太陽能電池組件此時將會發(fā)熱的現(xiàn)象。被遮擋的光伏組件、將會消耗有光照的光伏組件所產(chǎn)生的部分能量或所有能量，降低輸出功率；嚴(yán)重將會性破壞太陽能電池組件、甚至燒毀組件。實(shí)驗(yàn)室在組件可靠性測試方面，“熱斑效應(yīng)”一直是被討論和研究的重點(diǎn)對象之一，其測試方法也在不斷的進(jìn)行更新和改進(jìn)，其目的也是模擬出組件在真實(shí)環(huán)境下的抗熱斑性能。
組件產(chǎn)生熱斑后導(dǎo)致組件燒毀的事例，產(chǎn)生的原因是電池片出現(xiàn)裂紋或不匹配、內(nèi)部連接失效、局部被遮光或弄臟，導(dǎo)致一組電池片被遮光或損壞，使電池片遮擋部位被短路，這時該電池或電池組被置于反向偏置狀態(tài)而消耗功率，引起電池片過熱，產(chǎn)生熱斑效應(yīng)，從而導(dǎo)致燒毀組件。
熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)試驗(yàn)原理
熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)通過控制光源，照射試樣當(dāng)組件中的一個電池或一組電池被遮光或損壞時，工作電流超過了該電池或電池組降低了短路電流，在組件中會發(fā)生熱斑加熱。此時后影響的電池或電池組被置于反向偏置狀態(tài)，消耗功率，從而引起過熱！
熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)主要特點(diǎn)
參照IEC61215-2005、IEC61646-2008、IEC61730:2-2004、UL1703-2004等標(biāo)準(zhǔn)，可對溫度、光輻照度進(jìn)行自動監(jiān)控；配置輻射計(jì)，可對輻照度進(jìn)行控制及校正，使輻照度穩(wěn)定在照度上，同時對試驗(yàn)時間進(jìn)行控制。儀器用于確定組件承受熱斑加熱效應(yīng)的能力，如這種效應(yīng)可能導(dǎo)致焊接熔化或封裝退化。電池不匹配或裂紋、內(nèi)部連接失效、局部被遮光或弄臟均會引起這種缺陷。
“熱斑效應(yīng)”是指在一定條件下，串聯(lián)支路中被遮蔽的太陽能電池組件將當(dāng)做負(fù)載，消耗其他被光照的太陽能電池組件所產(chǎn)生的能量，被遮擋的太陽能電池組件此時將會發(fā)熱的現(xiàn)象。被遮擋的光伏組件、將會消耗有光照的光伏組件所產(chǎn)生的部分能量或所有能量，降低輸出功率；嚴(yán)重將會性破壞太陽能電池組件、甚至燒毀組件。實(shí)驗(yàn)室在組件可靠性測試方面，“熱斑效應(yīng)”一直是被討論和研究的重點(diǎn)對象之一，其測試方法也在不斷的進(jìn)行更新和改進(jìn)，其目的也是模擬出組件在真實(shí)環(huán)境下的抗熱斑性能。
組件產(chǎn)生熱斑后導(dǎo)致組件燒毀的事例，產(chǎn)生的原因是電池片出現(xiàn)裂紋或不匹配、內(nèi)部連接失效、局部被遮光或弄臟，導(dǎo)致一組電池片被遮光或損壞，使電池片遮擋部位被短路，這時該電池或電池組被置于反向偏置狀態(tài)而消耗功率，引起電池片過熱，產(chǎn)生熱斑效應(yīng)，從而導(dǎo)致燒毀組件。
熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)試驗(yàn)原理
熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)通過控制光源，照射試樣當(dāng)組件中的一個電池或一組電池被遮光或損壞時，工作電流超過了該電池或電池組降低了短路電流，在組件中會發(fā)生熱斑加熱。此時后影響的電池或電池組被置于反向偏置狀態(tài)，消耗功率，從而引起過熱！
熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)主要特點(diǎn)
參照IEC61215-2005、IEC61646-2008、IEC61730:2-2004、UL1703-2004等標(biāo)準(zhǔn)，可對溫度、光輻照度進(jìn)行自動監(jiān)控；配置輻射計(jì)，可對輻照度進(jìn)行控制及校正，使輻照度穩(wěn)定在照度上，同時對試驗(yàn)時間進(jìn)行控制。儀器用于確定組件承受熱斑加熱效應(yīng)的能力，如這種效應(yīng)可能導(dǎo)致焊接熔化或封裝退化。電池不匹配或裂紋、內(nèi)部連接失效、局部被遮光或弄臟均會引起這種缺陷。
